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ニュース

製品の発表、展示会の記録、技術の検証を、日付順に並べています。

2026.10.02
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技術ブログ
実装基板を「色と形」に分けて見る:PCB外観検査と4つの画像表現
2026.10.01
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お知らせ・メディア掲載
月刊「コロンブス」10月号に掲載|光沢面のキズはなぜ見えないのか、AI外観検査はなぜ「導入して終わり」ではないのか
2026.09.30
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技術ブログ
トレーディングカードの表面観察にも、FORESIGHT STEREO® ― 光沢面の「色」と「形」を分けて見る
2026.09.24
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技術ブログ
「良品だけのはず」の学習データにNGが混じったら、検査AIはどうなるか
2026.09.08
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お知らせ・展示会・イベント
写っていないものは、検出できない ― 日本機械学会 年次大会 W252 でCTOが講演しました
2026.09.02
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技術ブログ
「MVTec ADで99%」では手法を選べない — 産業用異常検知29手法のAUROCを設定付きで比較した
半導体チップの 3D Surface 出力を発散カラーマップで表示した画像。回路の段差が赤と青の細い線として現れている。
2026.08.28
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技術ブログ
同じTR-100、レンズだけを高倍率に替えて半導体チップを見てみた
「TR-300 レンズ選定レポート ― レンズを変えるだけで、視野は 2 倍変わる」と題した図。35 / 50 / 85 mm で撮ったチェッカーボードが並び、視野の広さが比較されている。
2026.08.25
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技術ブログ
焦点距離で視野と分解能はどれだけ変わるか ― 35 / 50 / 85 mm のラインスキャンレンズを実測比較
日本機械学会 2026 年度年次大会 特別企画「企業の日」の告知カード。演題「光とAIで“見えない欠陥”を見る」、登壇者 2 名、2026.9.6 SUN 15:00〜 と記載されている。
2026.08.13
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展示会・イベント
「光とAIで"見えない欠陥"を見る」— 日本機械学会 年次大会 特別企画「企業の日」に登壇します
展示会場の写真。白い机の上に TR-55 と表示用のモニタが置かれ、その隣に三次元測定機が並んでいる。
2026.08.06
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展示会・イベント
その場で3Dにする ― TR-55 展示レポート
AI 異常検知の評価ツールの画面。しきい値 0.44 のときの混同行列(109 / 11 / 12 / 88)と、適合率・検出率・F1 の値が表示されている。
2026.07.28
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技術ブログ
AI異常検知の「評価」を、手を動かして理解する(1/4)
Web アプリの画面。良品と不良のスコア分布のヒストグラムと、1 サンプルずつを並べた散布図が横に並んでいる。
2026.07.24
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技術ブログ
AI外観検査の閾値は、どう決まるのか——「見逃しゼロ」の代償を数字で確かめられる無料Webアプリを公開しました

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答えが、
ここに無かったら。

対象物の表面仕上げ、見たい欠陥の大きさ、良品のばらつき、ラインの速度。 画面の上で答えられるのはここまでです。サンプルをお預かりして撮り、判定まで試すところからご相談ください。